面向微处理器验证的分层随机激励技术的设计研究

发布时间：2024-03-18 21:46

　　随着嵌入式系统功能日益增强,设计复杂度和上市时间(TTM)之间的矛盾逐渐突出,提高功能测试验证的效率和覆盖率是当前数字集成电路研究的热门领域。本文以嵌入式CPU的验证为背景,探索数字集成电路功能验证的激励产生方法,提出一种基于层次化架构的受限约束随机激励产生方法,可增强激励产生的目的性和提升覆盖率,从而提高处理器的验证效率。主要研究内容和创新点包括: 1.层次化的随机约束技术。在分层架构下将直接激励针对性强和普通受限随机激励测试方便的优点相结合,实现从底层处理器信号级到高层处理器系统级随机激励的逐层抽象,提高测试激励的质量和有效性。该技术通过测试层、场景层、功能层和指令层,提供灵活的约束参数配置接口,解决嵌入式CPU验证中传统受限随机激励方法所面临的参数配置复杂度高和针对性低的问题,实现随机测试激励在不同粒度范围的高效可控,缩减测试激励搜索空间,加快验证的收敛速度。 2.可配置功能库技术。通过抽象处理器内部逻辑和外部通信功能,以处理器功能单元为随机激励的构建基础,产生基于指令和通信接口行为操作的测试序列流。该技术利用处理器计算与通信的正交性原则,构建复杂的处理器模拟运行环境,扩大测试覆...

【文章页数】：80 页

【学位级别】：硕士

【部分图文】：

图1一2Soc逻辑设计复杂性

硬件复杂度的增长遵循摩尔定律(1985)l，】，但验证的复杂性更具挑战。它在理论上将随着硬件复杂度的翻倍而指数型增长。功能验证被广发的认为是硬件设计的瓶颈所在，高达70%的时间耗费。今年的调查研究(图1一2)表明SoC设计的统计数据，表明设计复杂度(LogieGates)，设计....

图1一4IntellA32系列芯片逻辑bug数

浙江大学硕士学位论文第1章绪论图1一4IntellA32系列芯片逻辑bug数:21处理器验证技术的研究现状目前处理器的功能验证技术主要采用模拟验证(simulatfonVerificatfon硬件加速验证(HardwareEmulationVerifieation)和形式....

图2一4测试层对各层的约束

图2一4测试层对各层的约束测试人员根据测试计划针对处理器的某个模块或某个功能编写测试案例进行验证，即设定用户约束(图2一3测试层)。编写测试案例实现两个目的:修改各层约束和创建定向激励。在修改各层约束时，可定义新的随机场景，限制功能库的引用范围和功能操作的转移概率等。在创建定向激....

图3一1分层随机激励的约束组成

3.1分层随机激励的约束分类约束是随机验证流程中控制激励产生的指导框架，处理器的随机约束通常分为软件约束和硬件约束(图3一1)。分层随机激励发生器将软硬件约束与激励的层次化框架相结合，有效产生覆盖处理器功能操作的激励流。约束实际上是定义了参数配置的随机范围，并在激励运行时产生符合....

本文编号：3931861