涡旋光位移干涉测量方法与信号处理

发布时间：2023-11-25 13:49

　　激光干涉测量技术作为超精密测量的重要手段,为实现亚纳米级测量分辨力,通常对干涉周期信号进行数百倍甚至上千倍的插值细分,引入分辨力有效性问题。本文基于涡旋光束的螺旋相位特性,搭建高精度共轭涡旋光干涉位移测量结构,将被测直线位移量与干涉图案绕中心旋转角度建立线性传感关系。信号采集与处理中基于干涉信号特点,结合高速光电探测器进行干涉图案周期计数与相机进行低速干涉图案图像细分,对干涉图案自身进行空间等角度细分,有效降低后继周期信号的细分倍数并提高测量分辨力可靠性,以保证涡旋光干涉信号实时处理系统的亚纳米量级测量精度。搭建涡旋光束拓扑荷数为4的干涉测量实验测试系统,理论上干涉图案旋转1°对应的被测位移量为0.88 nm,设计基于LabVIEW的信号实时采集和处理系统并进行测量分辨力测试与误差分析,在实验室条件下分辨力优于0.5 nm。

【文章页数】：8 页

【文章目录】：
1 引 言
2 涡旋光束干涉测量系统
    2.1 涡旋光束干涉位移测量原理
    2.2 干涉图案信号读取
    2.3 干涉图案细分
    2.4 干涉图案的稳定性
3 实验测试与分析
    3.1 实验测试系统
    3.2 测试误差分析
4 结 论



本文编号：3867550